سرايا - سرايا - رعى رئيس جامعة العلوم والتكنولوجيا الأردنية الدكتور محمود الشياب المؤتمر الدولي العاشر لتصميم وفحص الالكترونيات "10th IEEE International Design & Test Symposium (IDT'15) والذي نظمته الجامعة بالتعاون مع جامعة عمان العربية وبرنامج التنافسية الأردني (USAID-JCP).

وقال الدكتور عمر الجراح رئيس جامعة عمان العربية ان هذا المؤتمر الذي ترعاه جمعية مهندسي الكهرباء والإلكترونيات العالمية (IEEE) ليكون منتدى عالمياً للعلماء والمهندسين المختصين في كافة مجالات تصميم وفحص الإلكترونيات والتقنيات المرتبطة بها، ليقدموا نتاج أبحاثهم وأفكارهم ومساهماتهم، ويـُعتبر هذا المؤتمر العاشر لسلسلة من المؤتمرات التي عـُقدت بنجاح وخـُصصت لمناقشة آخر التطورات التقنية في هذا المجال. وقد تم إختيار الأردن للعام 2015 لعقد فعاليات هذا المؤتمر.



وقال الرئيس العام للمؤتمر الدكتور خلدون مهيدات عضو هيئة التدريس في قسم هندسة الحاسوب في كلية تكنولوجيا الحاسوب والمعلومات ان هذا المؤتمر سيناقش على مدى ثلاثة أيام (37) بحثا علميا من أكثر من (19) دولة كما ويشارك بالمؤتمر متحدثين وخبراء عالميين من شركات وجامعات عالمية مثل شركة Mentor Graphics، شركة Synopsys، شركة Intel، جامعة California، Irvine – امريكيا، جامعة Delft التقنية – هولندا. وسيتم نشر أبحاث المؤتمر في قاعدة IEEE Explore وإمكانية نشر مجموعة من الأبحاث المتميزة في مجلة IEEE Design and Test

وتخلل المؤتمر حلقتي نقاش موسعة حول تطوير نظام تصميم وفحص الالكترونيات في منطقة الشرق الاوسط وشمال افريقيا والتكنولوجيا المتعلقة بانترنت الاشياء.

يذكر بأن المؤتمر مدعوم تقنياً من قِبل IEEE Computer Society TTTC وIEEE CEDA.